ICT原理介紹：

一.隔離 ( Guarding )原理

隔離為ICT量測很重要的一種應用技術(shù)，乃是將待測零件相連接的零件給予隔離，使待測零件的量測不受影響，如下圖所示，應用運算放大器設(shè)計之電壓隨耦器，使輸出電壓 ( VG )與其輸入電壓 ( VA )相等，及運算放大器之兩輸入端間虛地 ( Virtual Ground )的原理，使得與待測零件相連的零件之兩端同電位，而不會產(chǎn)生分流來影響待測零件的量測，如同是已將將待測零件相連接的零件給予隔離。

經(jīng)由隔離之實施后，流經(jīng)R1的電流幾近零，不致影響R之量測。

由于VG=VA，因此I3=0

所以R1=V/I1

隔離 ( Guarding )基本原理圖

定電流測量法

如下圖所示，為被使用測量大電阻的測量法，乃是應用歐姆定律 ( Ohm’s Law )：R = V / I，提供定電流源至待測電阻，再由其兩端所量測之電壓值，來計算待測電阻之阻值。

定電流/電壓測量法

如下圖所示，為常被使用之電阻的測量法，乃是應用反相放大器 ( Inverting Amplifier )原理：Vo = -Vi * Rf / R，計算出待測電阻Rdut= -Vi * Rf / Vi。

二.電容器的測試原理
 

如上圖所示應用運算放大器 ( OPA )之反相放大原理：Vo = -V * R / Xc，其中Xc =1/ ( 2pfC )乃電容所產(chǎn)生的電抗，f為交流定電壓的頻率，再以角加速度『w = 2pf』來代表，則可由公式：C ＝ -Vo / ( V * w * R )，來計算出電容之值

 定電流測量 ( MODE C )

當電容值為10uF以上時，計算機會自動設(shè)定DC電容量測法。此法是用DC定電流來使待測電容充電，然后由充電的時間可算出電容值

如上圖所示由于在充電電壓與其充電時間成線性關(guān)系，故可由其斜率，來計算出待測電容之值。

三.電感器的測試原理



如上圖所示應用運算放大器 ( OPA )之反相放大原理：Vo = -V * R / XL，其中XL = ( 2pfL )乃電感所產(chǎn)生的電抗，f為交流定電壓的頻率，再以角加速度『w = 2pf』來代表，則可由公式：L ＝- V * R  / (w * V0 )，來計算出電感之值。

四.普通二極管的測試方法 (MODE D)

二極管采用如下圖所示之順向電壓測量法，來辨別二極管的好壞，正常的硅 ( Silicon )二極管之順向電壓約為0.7V，而鍺 ( Germanium )二極管之順向電壓約為0.3V。

五.晶體管的測量原理 ( 三端點 ) ( MODE TR )

晶體管的測量方法如下圖從晶體管的基極 ( Base )送脈波電壓，由于晶體管工作于飽和狀態(tài) ( Saturation Status )時集極與射極之間所測量的電壓 ( Vce )會小于0.2V以下，因此可藉之來辨別晶體管的好壞。

六.短/開路的測試原理 ( Open/Short Test )

學習短路表 ( Learning Short Pin Group Table )

短／開路 (  Open/Short ) 的測試數(shù)據(jù)可由學習一個良品的電路板而得。當學習時，計算機會測量任意兩個測試點 ( Test point )之間的阻值，然后產(chǎn)生一個短路表 ( Short Pin Group Table )，學習時，任意兩點間的阻值小于20Ω(初使值)即被判定兩點間為短路，否則為開路。

短/開路測試

短／開路測試是根據(jù)上述短路表的資料來做測試；先做短路測試 ( Short Test )再做斷路測試 ( Open Test )，說明如下 ：

開路測試是測試在同一短路群 ( Short Pin Group )里的每一測試點間 ( Test point )是否有斷路現(xiàn)象，判別開路的基準阻值是80Ω(初使值)；也就是說任意二點間的阻值如果大于80Ω(初使值)，則被判定為開路錯誤 ( Open Fail )。

短路測試是測試任意一短路群的測試點和其它短路群的測試點之間，是否有短路現(xiàn)象，判別短路的基準是5Ω(初使值)；也就是說，如果任意兩點間的阻值是小于5Ω(初使值)，則被判定為短路錯誤 ( Short Fail )。